電子元器件是元件和器件的總稱。常用電子元器件：電阻、電容、二極管、三極管、變壓器、繼電器、壓敏、液晶、連接器、可控硅、輕觸開關(guān)、蜂鳴器、各種傳感器、接插件、電機(jī)、天線等等。

1、機(jī)械沖擊：確定光電子器件是否能適用于在需經(jīng)受中等嚴(yán)酷程序沖擊的電子設(shè)備中，沖擊可能是裝卸、運輸或現(xiàn)場使用過程中突然受力或劇烈振動所產(chǎn)生的。

2、變頻振動測試：確定在規(guī)范頻率范圍內(nèi)振動對光電子器各部件的影響。

3、熱沖擊測試：確定光電子器件在遭受到溫度劇變時的抵抗能力和產(chǎn)生的作用。

4、插拔耐久性測試：確定光電子器件光纖連接器的插入和拔出，光功率、損耗和反射等參數(shù)是否滿足重復(fù)性要求。

5、存儲試驗：確定光電子器件能否經(jīng)受高溫和低溫下運輸和儲存。

6、溫度循環(huán)測試：確定光電子器件承受極高溫和極低溫的能力，以及極高溫和極低溫度交替變化對光電子器件的影響。

7、恒定濕熱：確定密封和非密封光電子器件能否同時承受規(guī)定的溫度和濕度。

8、高溫壽命測試：確定光電子器件高溫加速老化失效機(jī)理和工作壽命。

加速老化試驗：在光電子器件上施加高溫、高濕和一定的驅(qū)動電流進(jìn)行的加速老化，依據(jù)試驗的結(jié)果來判定光電子器件具備功能和喪失功能，以及接收和拒收，并可對光電子器件工作條件進(jìn)行調(diào)整和對可靠性進(jìn)行計算。

1、高溫加速老化：加速老化過程中最基本環(huán)境應(yīng)力式高溫。在實驗過程中，應(yīng)定斯監(jiān)測選定的參數(shù)，直到退化超過壽命終止為止。

2、恒溫試驗測試：恒溫試驗與高溫運行試驗類似，應(yīng)規(guī)定恒溫試驗樣品數(shù)量和允許失效數(shù)。

3、變溫試驗：變化濕度的高溫加速老化試驗是定期按順序逐步升高溫度

加速老化試驗：在光電子器件上施加高溫、高濕和一定的驅(qū)動電流進(jìn)行的加速老化，依據(jù)試驗的結(jié)果來判定光電子器件具備功能和喪失功能，以及接收和拒收，并可對光電子器件工作條件進(jìn)行調(diào)整和對可靠性進(jìn)行計算。

1、高溫加速老化：加速老化過程中最基本環(huán)境應(yīng)力式高溫。在實驗過程中，應(yīng)定斯監(jiān)測選定的參數(shù)，直到退化超過壽命終止為止。

2、恒溫試驗測試：恒溫試驗與高溫運行試驗類似，應(yīng)規(guī)定恒溫試驗樣品數(shù)量和允許失效數(shù)。

3、變溫試驗：變化濕度的高溫加速老化試驗是定期按順序逐步升高溫度

一、 設(shè)備用途:

    微電腦插拔力試驗機(jī)適用于各類連接器（件）、插頭插座等產(chǎn)品作插入、拔出之疲勞壽命測試；

電動插拔力試驗機(jī)采用臺灣AC調(diào)速電機(jī)為動力源，質(zhì)量可靠，耐久使用；配以專用對心夾持夾具對連接件（器）作插拔測試，由于采用導(dǎo)程銅套降低了機(jī)械摩擦及噪聲；

電動插拔力試驗機(jī)可選配微型印表機(jī)打印插入力與拔出力，且打印間隔可以設(shè)定，自動計算最大力、最小力、平均力。

二、設(shè)備參數(shù):